SPIE Advanced Lithography + Patterning|SPIE 先进光刻与图形化大会 – 展会详情

SPIE Advanced Lithography + Patterning|SPIE 先进光刻与图形化大会

全球光刻与图形化工艺领域最核心的学术与产业会议之一。

展会基本信息

时间:2027 年 1 月 30 日 - 2 月 4 日

地点:圣何塞(美国) · San Jose Marriott & San Jose Convention Center

主办方:SPIE

展会等级:S级

展会简介

SPIE Advanced Lithography + Patterning 是全球光刻与图形化工艺领域最具权威的学术与产业会议之一,长期聚焦先进制程所需的关键工艺与设备技术,包括EUV/DUV光刻、掩模与光学、光刻胶与材料、计量与缺陷检测、计算光刻与DFM等。该会议对先进芯片制造与AI计算硬件路线具有强指示意义,适合芯片制造、设备材料、EDA/计算光刻与相关研究团队进行技术趋势跟踪与合作对接。

覆盖行业

AI算力与芯片

代表性品牌

英特尔三星英伟达

展会亮点与趋势

先进制程关键工艺的“硬科技”风向标,光刻与计算光刻议题对AI芯片迭代至关重要。

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